高低溫試驗(yàn)箱 高低溫試驗(yàn)箱現(xiàn)場(chǎng)的溫度變化情況：在電子設(shè)備和元件中，通常出現(xiàn)的溫度變化是逐漸的，設(shè)備內(nèi)部的零件，在設(shè)備沒(méi)有工作時(shí)，其所受的溫度變化比那些設(shè)備外表面的零件慢些，溫度迅速變化可能會(huì)出現(xiàn)的場(chǎng)合：當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境中搬到寒冷的室外環(huán)境或者是相反情況的時(shí)候，當(dāng)設(shè)備由于受雨淋或浸泡在冷水里以致突然冷卻的時(shí)候，安裝在飛機(jī)外部的設(shè)備中，在某些運(yùn)輸和儲(chǔ)存條件下，當(dāng)設(shè)備啟動(dòng)后，在其內(nèi)部有高的溫度梯度時(shí)，元件就會(huì)受到溫度變化的應(yīng)力，例如：在大功率電阻附近，輻射會(huì)使相鄰的元件表面溫度上升，而其他部分還是冷的，人工冷卻的元件，當(dāng)冷卻系統(tǒng)接通時(shí)會(huì)受到溫度的迅速變化，元件中溫度的迅速變化也會(huì)在制造設(shè)備過(guò)程中產(chǎn)生，溫度變化的嚴(yán)酷等級(jí)主要取決于溫度變化的次數(shù)和輻度及它們之間的時(shí)間間隔，當(dāng)轉(zhuǎn)換時(shí)間為（2-3）min時(shí)，試驗(yàn)樣品所受之熱應(yīng)力，小件試驗(yàn)樣品要比大件試驗(yàn)樣品所受的熱應(yīng)力小得多，然而試驗(yàn)樣品所承受的熱應(yīng)力是與其在幾分鐘內(nèi)從一個(gè)極端溫度到另一個(gè)極端溫度的大氣中所受到的應(yīng)力有一定關(guān)系，試驗(yàn)的升溫和降溫對(duì)元件和設(shè)備的影響是有差異的，在元件或設(shè)備上出現(xiàn)凝露或結(jié)霜會(huì)引起額外的應(yīng)力，在不希望有這些額外應(yīng)力的地方，必須適當(dāng)?shù)乜刂茲穸?，以減少其影響。導(dǎo)則推薦給有關(guān)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)人員在應(yīng)用溫度變化試驗(yàn)規(guī)范時(shí)提供指導(dǎo)，溫度變化試驗(yàn)的目的在于確定溫度變化或連續(xù)溫度變化對(duì)試驗(yàn)樣品的影響，不適用于僅僅是考核高溫和低溫的影響作用，對(duì)這些作用，要使用高溫或低溫試驗(yàn)，溫度變化試驗(yàn)的作用決定于：溫度條件試驗(yàn)的高溫和低溫溫度值、試驗(yàn)樣品保持在這些溫度條件中的試驗(yàn)時(shí)間、由高到低（或由低到高）溫度間的變化速率、條件試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)、試驗(yàn)樣品輸入或輸出的總熱量。
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